11.09.2018

Part 3/5: Neuer „Schichtmodus“ für Bildfeldsensoren

SERIE Acquire Automation XT – FRT's Powerful Multi Sensor Software

Transparente Schichten stellen eine tägliche Herausforderung im Bereich der Topographiemessung dar. Um das gewünschte Ergebnis zu erzielen, muss man darauf achten, dass die Topographiedaten der ”richtigen“ Oberfläche aufgenommen werden.

Interessiert an den neuesten Beiträgen dieser Serie? Jetzt informieren.

Part 1/5: Hybride Messtechnik zur schnellen und zuverlässigen Bestimmung von nicht zugänglichen Parametern

Part 2/5: Software Paket „Linsenform“

Part 4/5: Software Paket für Overlay-Messung

Der neue "Schichtmodus", der für die Sensoren CFM, CFM DT und WLI FL verfügbar ist, ermöglicht einen großen Sprung nach vorne in diesem schwierigen Themenbereich und bietet die perfekte Lösung für viele verschiedene Anwendungen. Das spezielle Software-Modul ist in der Lage, die von den verschiedenen Oberflächen kommenden Reflexionen zu unterscheiden. Durch die Verwendung einer grafischen Oberfläche erhält der Anwender die Möglichkeit, die Signale der jeweiligen Oberflächen zu sortieren und zu filtern und so die Ausgabe der relevanten Daten zu definieren. Diese Einstellungen können auch für vorhandene Messdaten angepasst werden, d.h. eine Nachmessung ist nicht erforderlich.

Der "Schichtmodus" kann z.B. verwendet werden, um die Topographie einer schlecht reflektierenden transparenten Schicht zu messen, während das Signal des darunter liegenden hochreflektierenden Substrats ignoriert wird. Ein weiterer Vorteil: bei Materialien mit bekanntem Brechungsindex kann der Sensor auch zur direkten Bestimmung der Dicke einer transparenten Schicht verwendet werden.

Wir haben sicher auch eine Lösung für Ihre spezifische Aufgabe. Zögern Sie nicht uns zu kontaktieren. Unsere Experten werden sich gerne um Ihr Anliegen kümmern und individuelle Lösungen für Sie ausarbeiten.

Interessiert an den neuesten Beiträgen dieser Serie? Jetzt informieren.

Part 1/5: Hybride Messtechnik zur schnellen und zuverlässigen Bestimmung von nicht zugänglichen Parametern

Part 2/5: Software Paket „Linsenform“

Part 4/5: Software Paket für Overlay-Messung