05.06.2018

Prozesskontrolle bei der Herstellung von Kunstlederhäuten

Für die Prozesskontrolle bei der Herstellung von Kunstlederfolien soll die möglichst formtreue Übertragung der Ledervorlage bis zur Kunstlederhaut sichergestellt werden. Die Werkzeuge zur Abformung haben Metalloberflächen, Ledervorlage und Kunstlederhaut sind weich und es sollen auch sehr weiche Silikonabdrücke aufgenommen werden. Es soll nicht nur die grobe Lederstruktur gemessen sondern auch die Mikrostruktur auf den Noppen und in den Narben bestimmt werden. Alle Messungen sollen möglichst mit demselben Sensor durchgeführt werden.

Konventionelle Tastschnittgeräte tasten die Oberfläche mechanisch ab. Sie können die weichen Oberflächen nicht rückwirkungsfrei messen und sie sind zu langsam, um 3D Messungen aufzunehmen. Bei berührungslos messenden Autofokussystemen wird im Sensor eine Linse der Höhe des Messobjektes nachgeführt. Die stark strukturierten Kunstlederoberflächen können so nur sehr langsam vermessen werden.

Kunstlederoberflächen für die KFZ Innenausstattung dürfen sich nicht in der Scheibe spiegeln. Das bedeutet, sie absorbieren auftreffendes Licht in hohem Maß. Ein optischer Sensor muss sehr empfindlich sein, um aus dem wenigen Licht, das an einer schwarzen Kunstlederoberfläche gestreut wird, die Topographie sicher bestimmen zu können.

Im MicroProf® wird ein konfokaler, chromatischer Abstandssensor eingesetzt. Der CWL Sensor fokussiert Weißlicht auf das Messobjekt und bestimmt aus der spektralen Verteilung des an der Oberfläche gestreuten Lichtes die Höhe des Messobjektes im Messfleck. Für verschiedene Messaufgaben stehen unterschiedliche Messköpfe mit Messbereichen von bis zu 10 mm bzw. einer Höhenauflösung ab 3 nm zur Verfügung.

Mit dem System kann das gesamte Spektrum der verwendeten Materialien (Leder, Metall, Silikon, Kunststoff) untersucht werden.

Bei Messungen mit dem MicroProf® steht die volle Auflösung (2 μm lateral, 3 nm in der Höhe) bei jeder wählbaren Messfeldgröße zur Verfügung.

Für extrem schnelle Messung steht mit dem SLS ein optischer Liniensensor zur Verfügung. Er arbeitet ebenso nach dem Prinzip der chromatischen Abstandsmessung. Anstelle eines einzelnen Messflecks erzeugt dieser Sensor 192 Messflecke, die äquidistant entlang einer Linie aufgereiht sind. Auf diese Weise wird für jeden Messpunkt ein Abstandswert mit einer Auflösung im nm-Bereich erzeugt. Aufgrund der Linienanordnung der Messpunkte ist es mit diesem Verfahren möglich, beim Scan­nen entlang einer hierzu senkrecht ausgerichteten Messrichtung unmittelbar eine 3D-Messung zu erzeugen. Bei Messraten von bis zu 2 kHz wird somit das Abrastern eines Messobjekts in einem Bruchteil der bei Punktsensoren üblichen Zeit ermög­licht.

Mit dem Programm Mark III, das im MicroProf® für die Auswertung der gemessenen Daten eingesetzt wird, wird die Höhe der Noppen, die Breite der Narben und die Steilheit der Flanken gemessen. In kleinen Flächenausschnitten zwischen den Narben wird die Rauheit der Oberfläche bestimmt.

Wir haben sicher auch eine Lösung für Ihre spezifische Aufgabe. Zögern Sie nicht uns bei Fragen zu kontaktieren. Unsere Experten werden sich gerne um Ihr Anliegen kümmern und individuelle Lösungen für Sie ausarbeiten.