News

Hier finden Sie die aktuellsten Veröffentlichungen und News von und mit FRT. Wenn Sie mehr über FRT erfahren möchten, besuchen Sie uns auf Twitter oder LinkedIn.

24.03.2020

Optisch versus taktil - Messmethoden im Vergleich

Welches Verfahren ist das bessere? Welche Vorteile und Nachteile gibt es? Welche Anforderungen lassen sich mit den einzelnen Methoden erfüllen? Beide...

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20.03.2020

Virtual App Lab (VAL): Besuchen Sie das FRT Applikationslabor ohne zu reisen!

Treffen Sie unsere Vertriebs- und Applikationsingenieure im „virtuellen“ Applikationslabor: Erleben Sie live via Videoschaltung unsere...

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Virtual App Lab
17.03.2020

Vertical Cavity Surface Emitting Laser - VCSEL-Technologie nimmt Fahrt auf

VCSEL ist eine der Zukunftstechnologien und steht für „Vertical Cavity Surface Emitting Laser“. Die Laserprodukte sind für neue Anwendungen, wie...

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Vertical Cavity Surface Emitting Laser
10.03.2020

CWL – Chromatischer Weißlicht Sensor für schnelle und hochpräzise Metrologie

Passgenau für die unterschiedlichsten Messaufgaben und Oberflächen konfigurierbar Bei der Untersuchung flacher, ausgedehnter Strukturen ist eine...

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03.03.2020

Vollumfassender Service garantiert Kundenzufriedenheit

Ausbau der Service- und Wartungsabteilung Die FRT GmbH bietet 3D-Oberflächenmesstechnik für die Forschung, Produktion und Qualitätssicherung. Mit...

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Comprehensive service
25.02.2020

Oberflächenmessung als Dienstleistung

Ressourcenschonende Lösung für gelegentlichen oder wechselnden Bedarf Ideal für Einsteiger oder Unternehmen, die (noch) selten messen – die...

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Surface measurement
18.02.2020

Schulung vermittelt Know-How der Profis

Aus der Praxis für die Praxis Steigern Sie Ihren Erfolg durch Wissen Im betrieblichen Alltag steigen die Anforderungen an Mitarbeiter und Technik...

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Training for better success
11.02.2020

IR-Mikroskop - 2D-Analyse durch IR-Transmissionsbilder

Das IR-Mikroskop erfasst Transmissionsbilder für die optische, berührungslose und zerstörungsfreie 2D-Analyse von Strukturen in nahinfraroten (NIR)...

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IR-Mikroskop
03.02.2020

MicroProf® DI - Hochpräzise optische Oberflächeninspektion für Halbleiteranwendungen (Teil 2)

Intelligente Defektanalyse verhindert Ertragseinbußen durch frühzeitige Identifikation Das optische Inspektionssystem MicroProf® DI macht die...

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MicroProf® DI
28.01.2020

MicroProf® DI - Hochpräzise optische Oberflächeninspektion für Halbleiteranwendungen (Teil 1)

Flexible Kombination von Metrologie und Inspektion in einem vollautomatischen Messgerät Packaging-Technologien entwickeln sich in der...

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MT Defect Inspection I

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