Halbleiter / Mikroelektronik

Halbleiter / Mikroelektronik

Die Schlagwörter sind 3D IC, TSV oder WLFO. In der Halbleiterindustrie überschlagen sich die Innovationen, doch neue Lösungen haben sich noch nicht wirklich etabliert. Das gilt teilweise auch für die Anwendungen, die von IoT oder Automobilelektronik getrieben sind. Mit FRT Multi Sensor Messgeräten können Sie die hohe Innovationsgeschwindigkeit mitgehen und bleiben trotzdem flexibel für die notwendige Trendwende.

Halbleiterindustrie Waferdicke Halbleiterindustrie Globale/Lokale Waferparameter Halbleiterindustrie Schichtdicke/Schichtstapel Hableiterindustrie Hybrid Metrology Halbleiterindustrie Bumps Halbleiterindustrie Rauheit Halbleiterindustrie Verbindungsschicht / Dicke Halbleiterindustrie Vias / TSV Halbleiterindustrie Trenches Halbleiterindustrie Defect Voids Halbleiterindustrie Topographie (Form, Struktur) Halbleiterindustrie Bow/Warp Halbleiterindustrie Waferdicke (IR) Halbleiterindustrie Verbleibende Siliziumdicke (RST) Halbleiterindustrie Stress Halbleiterindustrie Nanotopographie Halbleiterindustrie Sägeriefen (Saw Marks) Halbleiterindustrie Roll-Off Amount (RoA) / Edge Trim Halbleiterindustrie Thermische Belastung